No guia anterior da série, prometemos: o MOSFET merecia um capítulo só dele. Cumprindo — porque nenhum componente é tão presente nas linhas de potência das placas modernas e, ao mesmo tempo, tão traiçoeiro de testar. O MOSFET tem um truque (o gate que guarda carga) que faz iniciante condenar componente bom e absolver componente ruim todos os dias. Neste guia você aprende o teste completo com o multímetro, os vereditos claros e o porquê de cada passo.

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O que é um MOSFET (em 1 minuto)

Pense numa chave elétrica controlada por tensão: aplicou tensão no pino de controle (gate), a chave fecha e a corrente flui entre dreno (drain) e fonte (source). Tirou a tensão, a chave abre. Diferente do transistor bipolar (controlado por corrente), o gate do MOSFET é isolado — não consome corrente, só “sente” tensão. É essa eficiência que o colocou em todo lugar:

Identificando os Pinos (Antes de Qualquer Teste)

Teste com pinagem errada = veredito errado. Nos encapsulamentos mais comuns:

O Teste Completo, Passo a Passo (Canal N)

Multímetro na escala de diodo, placa desenergizada — e de preferência com o MOSFET fora da placa ou com a linha isolada (em circuito, os vizinhos mentem):

  1. Descarregue o gate: encoste a ponta do multímetro (ou uma pinça metálica) entre gate e source por um segundo. Sem isso, um gate carregado de testes anteriores dá leitura fantasma;
  2. Diodo intrínseco (o “detector de vida”): ponta preta no dreno, vermelha no source → deve mostrar 0,4–0,8 V (todo MOSFET tem um diodo interno entre S e D — é ele que você está vendo). Invertendo (vermelha no dreno): OL;
  3. Gate isolado: entre gate e source, e entre gate e dreno → OL nos dois sentidos. Qualquer leitura baixa aqui = gate furado = MOSFET condenado (defeito comum quando a placa levou surto);
  4. O teste da chave (a prova dos nove): toque a ponta vermelha no gate por um instante (a tensão do próprio multímetro carrega o gate) → agora meça dreno-source: a leitura despenca para perto de 0,000 — a chave fechou! Descarregue o gate (passo 1) → dreno-source volta a mostrar só o diodo. Fechou e abriu = MOSFET funcional.

Para canal P, é o espelho: diodo intrínseco com vermelha no dreno, e a chave carrega tocando a ponta preta no gate.

A Tabela dos Vereditos

Medição Bom Condenado
Dreno–Source (preta no D) 0,4–0,8 V (diodo) 0,000 = curto D-S (o defeito nº 1)
Dreno–Source (vermelha no D) OL (gate descarregado) 0,000 = curto
Gate–Source / Gate–Dreno OL nos dois sentidos qualquer leitura = gate furado
Teste da chave fecha com gate carregado, abre ao descarregar não fecha = aberto/degradado · não abre = fuga no gate

Os Erros Clássicos

Perguntas que Sempre Aparecem

Por que MOSFET queima tanto em curto D-S? Ele é a primeira barreira da potência: surto do carregador, pico da bateria, curto adiante — quem segura o tranco é ele. Morrer em curto é o modo de falha natural do MOSFET, e por isso um curto na linha principal começa a investigação pelos MOSFETs de entrada.

MOSFET bom esquentando é normal? Morno, sim; quente de não encostar, não — ou está com RDS(on) degradado, ou o gate está recebendo acionamento fraco (defeito no driver/PWM, não nele).

E os MOSFETs duplos (2 no mesmo corpo)? Muito comuns em SO-8 (um par N+N ou N+P para controle de carga): teste cada metade como um MOSFET independente — o datasheet mostra qual pino é de qual.

Conclusão

O MOSFET deixa de ser traiçoeiro quando você respeita o ritual: pinagem confirmada, gate descarregado, diodo intrínseco, gate isolado, teste da chave. Com a tabela de vereditos deste guia e a regra de ouro do teste fora do circuito, você condena com prova — e para de trocar componente bom. No próximo capítulo da série: os capacitores, incluindo o defeito invisível que engana até multímetro bom.

As ferramentas deste guia

Para testar e substituir MOSFETs com segurança:

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Veja também: como testar resistores, diodos e transistores, a caça ao curto e a sequência de energização.